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タケミナライブラリ
2016年度 光エレクトロニクス 筑波大学
OCWの電子計測関連
Semiconductor Junctions, TU Delft
The Elements of Statistical Leaming Data Mining, Inference, and Prediction.
日本半導体歴史館
ARTA softwareサイト
2021年度秋学期 画像情報処理 第4回 フーリエ変換とサンプリング定理 (2021. 10. 15) 浅野 晃 (Akira Asano)
Donald Peter, Seattle Pacific University: AC 2007-1362: WE CAN DO BETTER: A PROVEN, INTUITIVE, EFFICIENT AND PRACTICAL DESIGN-ORIENTED CIRCUIT ANALYSIS PARADIGM IS AVAILABLE, SO WHY AREN'T WE USING IT TO TEACH OUR STUDENTS?
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